研究者情報 | 神奈川大学

チン　シュンペイ Chen Chunping 陳　春平所属神奈川大学工学部電気電子情報工学科神奈川大学大学院工学研究科工学専攻（電気電子情報工学領域）職種准教授
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2006/10
形態種別	学術雑誌
査読	査読あり
標題	Scalar Reflectometer Based Nondestructive Technique for Measuring Complex Permittivity and Permeability
執筆形態	共著
掲載誌名	2006 36th European Microwave Conference
巻・号・頁	1,913-916頁
著者・共著者	C.-P. CHEN, N. Nagaoka, T. Anada, K. Li, Z.W. Ma, C. Christopoulos
概要	損失材料の複素誘電率および複素透磁率の非破壊測定を実現するため、低コストのスカラ反射計に基づいた“膜厚変化法”を提案した。技術の要点として、試料の厚さと測定結果の不確定性の関係を検討した。