ホシノ ヤスシ   Hoshino Yasushi
  星野 靖
   所属   神奈川大学  理学部 理学科
    神奈川大学大学院  理学研究科 理学専攻(物理学領域)
   職種   准教授
言語種別 英語
発行・発表の年月 2017/10
形態種別 その他
標題 The RBS analysis for a thin amorphous Si layer formed on clean and H-terminated Si(001) surfaces followed by medium-energy IBIEC treatments
執筆形態 共著
掲載誌名 The 23rd International Conference on Ion Beam Analysis, Abstract
掲載区分国外
著者・共著者 G. Yachida, Y. Hoshino, K. Inoue, J. Nakata