研究者情報 | 神奈川大学

ワタナベ　ノリミチ Watanabe Norimichi 渡邉　騎通所属神奈川大学工学部電気電子情報工学科職種助教
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2014/08
形態種別	学術雑誌
査読	査読あり
標題	Nanoscale characterization of an electron emitting tip by scanning probe microscopy
執筆形態	共著
掲載誌名	e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
掲載区分	国外
出版社・発行元	日本表面科学会
巻・号・頁	12,377-379頁
担当範囲	AFM測定
著者・共著者	◎Norimichi Watanabe, Miyuki Tanaka, Tetsuo Shimizu
概要	先端曲率半径が1μm以下のW(110)多結晶電子源先端に、原子間力顕微鏡（AFM）のプローブをアプローチさせて、電子源先端の微細構造を観測した。AFMを用いて、電子源先端の微細構造を観察することができた