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| ホシノ ヤスシ
            Hoshino Yasushi 星野 靖 所属 神奈川大学 理学部 理学科 神奈川大学大学院 理学研究科 理学専攻(物理学領域) 職種 准教授 | |
| 言語種別 | 日本語 | 
| 発行・発表の年月 | 2010/12 | 
| 形態種別 | その他 | 
| 標題 | 低速電子線回折・走査型トンネル顕微鏡を用いたSi・グラファイト表面観察 | 
| 執筆形態 | 共著 | 
| 掲載誌名 | 第29回法政大学イオンビームシンポジウム 予稿集 | 
| 掲載区分 | 国内 | 
| 著者・共著者 | 梶原覚、山口将輝、星野靖、斎藤保直、中田穣治 |