|
|
ホシノ ヤスシ
Hoshino Yasushi 星野 靖 所属 神奈川大学 理学部 理学科 神奈川大学大学院 理学研究科 理学専攻(物理学領域) 職種 准教授 |
|
言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2003/06 |
形態種別 | 学術雑誌 |
査読 | 査読あり |
標題 | Atomic scale characterization of oxidized 6H-SiC(1120) surfaces |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | Surface Science |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | 531,pp.295-303 |
担当区分 | 筆頭著者 |
著者・共著者 | Y. Hoshino, S. Matsumoto, Y. Kido* |