|
|
ホシノ ヤスシ
Hoshino Yasushi 星野 靖 所属 神奈川大学 理学部 理学科 神奈川大学大学院 理学研究科 理学専攻(物理学領域) 職種 准教授 |
|
言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2012/03 |
形態種別 | 大学・研究所等紀要 |
標題 | Analysis of Fe nanoparticles formed near the SiO2/Si interface by hot-ion implantation using RBS and TEM |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | Proceedings of the 29th Symposium on Materials Science and Engineering Research Center of Ion Beam T |
掲載区分 | 国内 |
出版社・発行元 | Hosei University |
巻・号・頁 | 29,pp.31-33 |
担当区分 | 筆頭著者,責任著者 |
著者・共著者 | Y. Hoshino*, H. Arima, Yasunao Saito, Jyoji Nakata |