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ヨネダ セイジ
Yoneda Seiji 米田 征司 所属 神奈川大学 工学部 電気電子情報工学科 職種 准教授 |
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| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2017/11 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Examination of oxidation resistance of Mg2Si thermoelectric modules at practical operating temperature |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | Journal of Alloys and Compounds |
| 掲載区分 | 国外 |
| 出版社・発行元 | Elsevier |
| 巻・号・頁 | 735(25 February 2018),pp.828-832 |
| 著者・共著者 | H. Inoue, S. Yoneda, M. Kato, I.J. Ohsugi, T. Kobayashi |
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