|
|
オクノ ショウジ
Okuno Shoji 奥野 祥二 所属 神奈川大学 情報学部 システム数理学科 職種 助教 |
|
言語種別 | 日本語 |
発行・発表の年月 | 2000/09 |
形態種別 | その他 |
標題 | Belle実験における2光子事象を用いたSVDの衝突パラメータ分解能の評価 |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | 日本物理学会第55回年次大会 |
概要 | 田子森宏、羽澄昌史(阪大)、横山将史(東大)、AndrezjBozek(INPクラコウ)、奥野祥二(神奈川大工)他BELLE-SVDグループ BELLE実験の2光子事象を用いてsilicon vertex detectorの衝突パラメータ分解能の評価を行なった結果について報告がなされた。 |