![]()
|
|
|
ホシノ ヤスシ
Hoshino Yasushi 星野 靖 所属 神奈川大学 理学部 理学科 神奈川大学大学院 理学研究科 理学専攻(物理学領域) 職種 准教授 |
|
| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2019/07 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | The RBS analysis for a thin amorphous Si layer formed on clean and H-terminated Si(001) surfaces followed by medium-energy IBIEC treatments. |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | Nuclear Instruments and Methods B (Available online 26 May 2018) |
| 掲載区分 | 国外 |
| 出版社・発行元 | Elsevier |
| 巻・号・頁 | 450,pp.229 |
| 担当区分 | 責任著者 |
| 著者・共著者 | G. Yachida, K. Inoue, Y. Hoshino*, J. Nakata |