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ニシモト ユウコ
Nishimoto Yuko 西本 右子 所属 神奈川大学 理学部 理学科 神奈川大学大学院 理学研究科 理学専攻(化学領域) 職種 教授 |
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言語種別 | 日本語 |
発行・発表の年月 | 1998/07 |
形態種別 | その他 |
標題 | 出土銭貨の蛍光X線分析における表面状態の影響 |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | 日本文化財科学会第15回大会研究発表要旨集(1998) |
巻・号・頁 | 38-39頁 |
概要 | 西本、山口、貴志、富沢。表面のさびにより測定結果が影響をうけることを定量的に示した。 |