研究者情報 | 神奈川大学

チン　シュンペイ Chen Chunping 陳　春平所属神奈川大学工学部電気電子情報工学科神奈川大学大学院工学研究科工学専攻（電気電子情報工学領域）職種准教授
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2005/12
形態種別	学術雑誌
査読	査読あり
標題	Nondestructive and Simultaneous Measurement of Complex EM Parameters with Scalar Reflectometer
執筆形態	共著
掲載誌名	Proceeding of Asia Pacific Microwave Conference 2005
巻・号・頁	4,2382-2385頁
著者・共著者	C.-P. CHEN, Z. Ma, T. Anada, J.-P. Hsu and D. Xu
概要	損失材料の複素誘電率および複素透磁率の非破壊測定を実現するため、低コストのスカラ反射計に基づいた“膜厚変化法”を提案した。