 
|
|
|
ミズノ トモヒサ
Mizuno Tomohisa 水野 智久 所属 神奈川大学 理学部 理学科 神奈川大学大学院 理学研究科 理学専攻（物理学領域） 職種 教授 |
|
| 言語種別 | 日本語 |
| 発行・発表の年月 | 1997 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 標題 | Experimental Analysis of Carrier Velocity Degradation in Sub-0.1 mm Fully-Depleted SOI-MOSFETs |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | Jpn. J. Appl. Phys.,36(1997). |
| 巻・号・頁 | 1543頁 |
| 概要 | R.Ohba and T.Mizuno |
Copyright © Kanagawa University. All Rights Reserved.