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シライ ナオキ
Shirai Naoki 白井 直樹 所属 神奈川大学 理学部 理学科 神奈川大学大学院 理学研究科 理学専攻（化学領域） 職種 准教授 |
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| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2021/08 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | High sensitivity determination of iridium contents in ultra-basic rocks by INAA with coincidence gamma-ray detection |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | Nuclear Engineering and Technology |
| 掲載区分 | 国外 |
| 巻・号・頁 | 54,pp.423-428 |
| 著者・共著者 | Mitsuru Ebihara, Naoki Shirai, Jin Kuwayama, Yosuke Toh |
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