 
|
|
|
マツキ ノブユキ
Matsuki Nobuyuki 松木 伸行 所属 神奈川大学 工学部 電気電子情報工学科 神奈川大学大学院 工学研究科 工学専攻（電気電子情報工学領域） 職種 准教授 |
|
| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2019 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | A Novel Optical Characterization of a-Si:H/c-Si Interface Microstructures Based on Data of Positron Annihilation Spectroscopy |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | ECS Transaction |
| 掲載区分 | 国外 |
| 巻・号・頁 | 92(9),pp.21-24 |
Copyright © Kanagawa University. All Rights Reserved.