研究者情報 | 神奈川大学

ワタナベ　ノリミチ Watanabe Norimichi 渡邉　騎通所属神奈川大学工学部電気電子情報工学科職種助教
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2015/09
形態種別	学術雑誌
査読	査読あり
標題	Nanoscale Characterization of an Electron Emitting Tip by Field Emission Microscopy and Scanning Probe Microscopy
執筆形態	共著
掲載誌名	Journal of Vacuum Science & Technology B
掲載区分	国外
出版社・発行元	American Institute of Physics
巻・号・頁	33(5),051809-1-051809-4頁
担当範囲	AFM観察
著者・共著者	◎Norimichi Watanabe, Miyuki Tanaka, Tetsuo Shimizu
概要	ショットキー電子源の評価は、通常、電界放射顕微鏡(FEM)により、電子源先端の各結晶面の平均的な仕事関数を測定することにより行われる。本研究では、走査プローブ顕微鏡(SPM)を用いて、電子源先端の結晶面内の微細構造を観測した。