研究者情報 | 神奈川大学

ワタナベ　ノリミチ Watanabe Norimichi 渡邉　騎通所属神奈川大学工学部電気電子情報工学科職種助教
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2015/05
形態種別	学術雑誌
査読	査読あり
標題	電界放射顕微鏡および走査プローブ顕微鏡による電子源の評価
執筆形態	共著
掲載誌名	Journal of the Vacuum Society of Japan
掲載区分	国内
出版社・発行元	日本真空学会
巻・号・頁	58(4),131-133頁
担当範囲	AFM観察
著者・共著者	◎渡邉騎通，田中深幸，清水哲夫
概要	従来の電界放射顕微鏡(FEM)に加えて、新たに、ナノスケールの精度で微細な構造を観察することができる走査プローブ顕微鏡(SPM)を用いて電子源の評価を行い、FEMによる電界放出パターンとSPMによる電子源先端構造との相関について調べた。