研究者情報 | 神奈川大学

オクノ　ショウジ Okuno Shoji 奥野　祥二所属神奈川大学情報学部システム数理学科職種助教
言語種別	日本語
発行・発表の年月	1999/09
形態種別	その他論文
標題	｢BELLE SVDの放射線損傷の研究｣,
執筆形態	共著
掲載誌名	日本物理学会1999年秋の分科会
掲載区分	国内
著者・共著者	金子順一（東工大理），奥野祥二（神奈川大工），他 BELLE SVD group,
概要	KEK B-ファクトリーのBELLE検出器のシリコンバーテックス検出器の放射線損傷による性能変化についての報告がされた。