チン シュンペイ   Chen Chunping
  陳 春平
   所属   神奈川大学  工学部 電気電子情報工学科
    神奈川大学大学院  工学研究科 工学専攻(電気電子情報工学領域)
   職種   准教授
言語種別 日本語
発行・発表の年月 2015/01
形態種別 その他
標題 同軸プローブ変化法に基づいた電波吸収体の複素誘電率と複素透磁率の同時測定法の不確かさの推定
執筆形態 共著
掲載誌名 信学技報, vol. 114, no. 433, EST2014-129, pp. 315-320, 2015年1月.
巻・号・頁 vol. 114(no. 433),315-320頁
著者・共著者 陳 春平,加藤紀樹,加藤丈政,鎌田克洋,穴田哲夫
概要 電波吸収体を設計・評価するために複素誘電率と複素透磁率を同時に測定する技術が要求されている.一方,フランジ付き開放端同軸プローブを用いて2つの複素材料定数(複素誘電率と複素透磁率)を同時に決定するため,少なくとも2つの異なる測定条件に基づいたベクトル反射係数が必要である.本稿では,我々のグループが提案した寸法(内径と外径)の異なる2つの開放端同軸プローブを用いて2つのベクトル反射係数を測定する「同軸プローブ変化法」の不確かさの推定法について検討した.まず,スペクトル領域法に基づいて,同軸プローブの理論モデルを導出した.更に,「同軸プローブ変化法」を用いて測定した複数誘電率と複数透磁率の不確かさの推定法を提案し,測定結果の不確かさと測定試料の厚さおよび周波数の関係や,プローブの組み合わせの選択の測定結果の不確かさへの影響などを調べた.最後,シミュレーションと実験により,「同軸プローブ変化法」とその不確かさの推定法の有効性を確かめた.