研究者情報 | 神奈川大学

チン　シュンペイ Chen Chunping 陳　春平所属神奈川大学工学部電気電子情報工学科神奈川大学大学院工学研究科工学専攻（電気電子情報工学領域）職種准教授
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2007/09
形態種別	学術雑誌
査読	査読あり
標題	Further Study on Coaxial-Probe-Based Two-Thickness-Method for Nondestructive and Broadband Measurement of Complex EM-parameters of Absorbing Material
執筆形態	共著
掲載誌名	IEICE Transaction on Electronics
巻・号・頁	E90-C(9),1763-1769頁
著者・共著者	C.-P. CHEN, D. XU, Z. MA, T. ANADA
概要	計算、モデリング、測定などに関連した誤差原因の系統的な考察の基に、不確定性連立方程式が終端開放形同軸プローブを用いた複素電磁パラメータ,即ち複素誘電率および複素透磁率の測定に対して確立された。数値解析は、測定精度に同軸線路のサイズの影響を考慮し、不確定性と測定材料の膜厚（と）の関係を「膜厚変化法」に基づいて３次元等高線図として示される。