 
|
|
|
ホシノ ヤスシ
Hoshino Yasushi 星野 靖 所属 神奈川大学 理学部 理学科 神奈川大学大学院 理学研究科 理学専攻（物理学領域） 職種 准教授 |
|
| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2000/05 |
| 形態種別 | 大学・研究所等紀要 |
| 標題 | Anomalous surface peaks observed in the backscattering spectra from amorphous Si and SiO2 films for medium energy He ions |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | Memoirs of the SR center Ritsumeikan University |
| 掲載区分 | 国内 |
| 巻・号・頁 | 2 |
| 著者・共著者 | Y. Kido, Y. Hoshino, T. Nishimura |
Copyright © Kanagawa University. All Rights Reserved.