ホシノ ヤスシ   Hoshino Yasushi
  星野 靖
   所属   神奈川大学  理学部 理学科
    神奈川大学大学院  理学研究科 理学専攻(物理学領域)
   職種   准教授
言語種別 英語
発行・発表の年月 2017/10
形態種別 その他
標題 Depth profiling of interfacial fluctuation with nanometer order in ultrathin ilicon-on-insulator structure by classical Rutherford backscattering using 10B ions
執筆形態 共著
掲載誌名 The 23rd International Conference on Ion Beam Analysis, Abstract
掲載区分国外
著者・共著者 Y. Hoshino, T. Toyohara, S. Takada, G. Yachida, J. Nakata