研究者情報 | 神奈川大学

オクノ　ショウジ Okuno Shoji 奥野　祥二所属神奈川大学情報学部システム数理学科職種助教
言語種別	日本語
発行・発表の年月	1999/09
形態種別	その他
標題	｢BELLE検出器を用いたB中間子崩壊によるinclusive electronの測定｣,
執筆形態	共著
掲載誌名	日本物理学会1999年秋の分科会
概要	角野秀一，渡邊靖志（東工大理），池田仁美，榎本良治，塚本敏文（高工研），花垣和則（Princetion Univ.），奥野祥二（神奈川大工），他 BELLE Collaboration, KEK B-ファクトリーのBELLE実験における、B中間子崩壊によるinclusive electronの測定についての報告がされた。