オクノ ショウジ   Okuno Shoji
  奥野 祥二
   所属   神奈川大学  工学部 情報システム創成学科
   職種   助教
言語種別 日本語
発行・発表の年月 1998/10
形態種別 その他
標題 赤外線レーザーを用いたBELLE-SVDのシステムテスト
執筆形態 共著
掲載誌名 日本物理学会1998年秋の分科会
概要 住澤一高、川崎健夫、長島順清、羽澄昌史、柳幸二郎(阪大理)、田中真伸、坪山透、幅淳二(高エ研)、奥野祥二(神奈川大工)、他BELLE SVDグループ。KEK B-ファクトリーのBELLE検出器で用いられるSVD(シリコン・ヴァーテックス検出器)の組み立て前の、赤外線レーザーによる最終テストの結果が報告された。