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オクノ ショウジ
Okuno Shoji 奥野 祥二 所属 神奈川大学 情報学部 システム数理学科 職種 助教 |
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言語種別 | 日本語 |
発行・発表の年月 | 1998/10 |
形態種別 | その他 |
標題 | 赤外線レーザーを用いたBELLE-SVDのシステムテスト |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | 日本物理学会1998年秋の分科会 |
概要 | 住澤一高、川崎健夫、長島順清、羽澄昌史、柳幸二郎(阪大理)、田中真伸、坪山透、幅淳二(高エ研)、奥野祥二(神奈川大工)、他BELLE SVDグループ。KEK B-ファクトリーのBELLE検出器で用いられるSVD(シリコン・ヴァーテックス検出器)の組み立て前の、赤外線レーザーによる最終テストの結果が報告された。 |