研究者情報 | 神奈川大学

オクノ　ショウジ Okuno Shoji 奥野　祥二所属神奈川大学情報学部システム数理学科職種助教
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2000/11
形態種別	その他
標題	電子回路部品の信頼性と性能劣化に関する解析法の検討
執筆形態	共著
掲載誌名	日本経営工学会平成12年度秋季研究大会
概要	横田護、柏木利介、奥野祥二（神奈川大工）。トランジスタなどの電子回路部品の信頼性、性能劣化に対する解析方法を検討し、温度負荷に対する寿命について解析を行なっている。